Dirk Steiner, Business Development Manager la Yxlon, a fost implicat intensiv în tomografia computerizată industrială din 2004 și a scanat și analizat peste 1.000 de seturi de date. Aici aveți ocazia să urmăriți înregistrarea webinarului Today's Metrology Live de la GIE Media și să auziți cum sunt rezolvate în mod fiabil sarcinile metrologice solicitante cu ajutorul tomografiei computerizate. Yxlon a fost prezent alături de producători de alte tehnologii legate de metrologie pentru a oferi o prezentare cuprinzătoare a soluțiilor.

Dirk a vorbit despre cele mai recente tendințe în domeniul metrologiei cu ajutorul tomografiei computerizate (CT) industriale și despre modul în care datele reprezintă cheia pentru a obține informațiile de care producătorii au nevoie pentru a crește eficiența și a reduce costurile. Cel mai important lucru pentru producători este calitatea ridicată a produselor lor. La "masa rotundă", cinci participanți au discutat despre modul în care soluțiile lor pot ajuta producătorii să atingă acest obiectiv. Cu toate acestea, măsurarea și analiza structurilor interne este posibilă doar cu ajutorul tomografiei computerizate.

Ca răspuns la una dintre întrebările adresate, Dirk a declarat: "CT este o metodă non-tactilă, deci nu modificăm geometria în timpul procesului. Putem vedea structurile interne și, având în vedere marea tendință actuală de fabricație aditivă, nu există limite în ceea ce se poate proiecta și imprima. Cu ajutorul tomografiei computerizate, putem privi în interior și măsura lucruri care sunt fie subcotate, fie chiar ascunse în interiorul piesei. În plus, obținem, de asemenea, date de la defecte, defecte interne, care în sine nu au nimic de-a face cu metrologia. Așa că omorâm doi iepuri dintr-o lovitură."