Prin utilizarea laminografiei computerizate avansate și a tehnologiei AI integrate, Comet Yxlon
aduce în prim-plan capacitățile de înaltă rezoluție 3D cu raze X pentru testarea detaliată în ambalarea avansată a circuitelor integrate. Pentru prima dată, piața semiconductorilor dispune acum de un supliment nedistructiv sau de o alternativă la metodele distructive convenționale. Imaginile tridimensionale cu raze X cu o rezoluție mai mică de 1 μm pot identifica în mod fiabil defectele tipice în conexiunile 3D ale lipiturilor de circuite integrate, cum ar fi protuberanțele lipsă și cele suprapuse, golurile, neumectarea, capul în pernă, deplasarea protuberanței și abaterile în înălțimea de distanțare sau deformările. Un software de analiză modern bazat pe învățare profundă preia evaluarea automată, inclusiv generarea de rapoarte în funcție de cerințele utilizatorului. Prin urmare, noul sistem de inspecție cu raze X CA20 oferă industriei semiconductorilor un nou nivel de siguranță și eficiență.

Semiconductorii au devenit parte integrantă a lumii noastre interconectate. Acest lucru impune cerințe mari producătorilor, deoarece ciclurile de inovare devin din ce în ce mai scurte, în timp ce complexitatea circuitelor integrate crește constant. Pentru a rămâne competitivi, se pune un accent deosebit pe reducerea costurilor de investiție și pe accelerarea proceselor de accelerare pentru a obține mai rapid o producție fără erori de componente noi, de înaltă performanță. Identificarea timpurie a defectelor critice accelerează considerabil dezvoltarea și optimizarea noilor procese de producție și, astfel, demararea producției noilor generații de cipuri.

Cu sistemul de inspecție CA20, Comet Yxlon a dus tehnologia 3D cu raze X pentru industria de ambalare avansată a semiconductorilor la un nivel cu totul nou. Reproiectarea completă a hardware-ului, optimizat pentru aplicațiile pentru semiconductori în ceea ce privește stabilitatea, imagistica, precizia și cerințele de întreținere, Comet Yxlon GmbH Page 2 of 3 combinată cu laminografia computerizată de înaltă rezoluție și pachetele software, cum ar fi Dose Manager, Batch Manager și "Insights" pentru evaluări automate, asigură acuratețe, fiabilitate și eficiență pentru toate sarcinile de inspecție. Toate funcțiile sunt accesate ușor și intuitiv prin intermediul interfeței de utilizator Geminy, care și-a dovedit eficiența în gamele de produse Comet Yxlon FF și UX, echipată cu simboluri grafice, asistenți și diverse presetări pentru fiecare nivel de calificare.

"Ca metodă de inspecție însoțitoare deja în cercetarea și dezvoltarea de noi microcipuri și în procesele de producție ale acestora, noul CA20 va revoluționa industria semiconductorilor", a declarat Christian Driller, vicepreședinte R&D la Comet Yxlon. "CA20 va asigura accelerarea dramatică a proceselor de accelerare și a timpului de lansare pe piață, rata actuală ridicată de rebuturi va fi redusă, iar randamentul va crește astfel semnificativ. Sistemul aduce obiectivul zero defecte la îndemână."

Ieri după-amiază, Comet Yxlon a lansat oficial sistemul cu demonstrații live și invitați. În timpul diferitelor prezentări din cadrul conferinței, Stephan Haferl (CEO Comet), Dionys van de Ven (președinte Comet Yxlon), Isabella Drolz (vicepreședinte Product Marketing Comet Yxlon) și Christian Driller s-au referit deja înainte la acest eveniment important. Noua poziționare a standului în hala B2, împărțită de productronica și Semicon Europa unul lângă altul, indică încotro se îndreaptă călătoria Comet Yxlon: Cele mai mici erori sunt cele mai mari provocări în lumea de astăzi, iar Comet Yxlon le face vizibile cu tehnologia sa, în conformitate cu promisiunea sa: See better. Mai rapid. Mai mult.